关键词:
接触式测量
在机测量
三维扫描测头
LVDT数字解调
嵌入式系统
复杂曲面
摘要:
随着现代工业的快速发展,复杂曲面零件在航空航天、船舶、国防等等领域的应用愈加广泛,此类零件具有复杂的面形、较高的精度要求以及表面形貌要求等,使得其加工难度远高于规则几何曲面零件。为满足高性能装备对复杂曲面零件高几何精度、高物理性能的加工要求,需保证其加工过程精细、可控,在复杂曲面加工过程中引入在机测量技术,构建复杂曲面的测量加工一体化系统,成为了一种应用广泛且行之有效的途径。三维测头是在机测量的尺寸获取传感器,其往往难以兼具高测量精度和高测量效率。接触式三维扫描测头则是测量精度和测量效率较为平衡的一类测头。目前,以英国Renishaw以及德国Zeiss公司为代表的接触式三维扫描测头产品已经得到成熟的商业应用,但其价格高昂。国内在三维扫描测头研究大多处于实验室阶段,产品化、商业化程度不足,且其中大部分测头还存在着体积偏大、稳定性差等问题。可用于获取三维测头位移的传感器种类繁多,如应变片、LVDT、电容式位移传感器、光学自动聚焦传感器,其中LVDT具有小型化、无摩擦测量、无限机械寿命以及理论无限分辨率的特点,是用于三维扫描测头位移获取的一种较为理想的传感器。但现有基于LVDT的三维扫描测头常规采用三轴串联机械解耦形式,存在体积较大的问题。再者,因LVDT的输出信号为模拟交流电压信号且输出电压幅值较小,难以胜任信号的远距离传输且容易收到电磁干扰。因此,针对以上问题,本文开展了一种小型化的基于LVDT传感器的接触式三维扫描测头设计研制及其全数字解调方法研究工作,主要研究内容包括:设计了一种小型化的并联式三维扫描测头机械结构。对串联式测头和并联式测头进行了测量误差分析以及误差量化,针对串联式测头存在的结构体积大、耦合误差大、压阻并联式测头存在的测量模型复杂、测量范围小等问题,设计了一款小型化、测量模型简单、耦合误差小的并联式三维扫描测头,为其建立了测量模型,分析了其耦合误差的形成原因,并量化了该测头测量过程中存在的耦合误差。提出了一种LVDT传感器的全数字解调算法。为满足测头小型化、可集成、高可靠性等需求,需为测头中的LVDT传感器设计一种数字解调算法。针对正弦信号处理算法中,DFT法、最小均方差法存在的运算量较大、硬件需求高以及三点值法存在的受采样频率影响大、抗干扰能力弱的问题,设计了一种LVDT传感器的全数字解调算法,并对其进行了原理分析与误差仿真分析,并将其与三点值法进行了精度以及运算量的对比。设计了一种三维测头的嵌入式全数字解调系统。在完成并联式三维扫描测头的结构设计以及LVDT传感器的全数字解调算法设计后,将其集成到一个整体当中,完成了三维扫描测头的软硬件一体化开发。为测头跟踪扫描测量的实现进行了原理分析,并为其设计了闭环控制方法。最后,在完成上述工作后,将测头及其解调系统搭载到TSUGAMI M08DY-Ⅱ数控机床上进行测头的性能测试工作,对测头的线性范围、分辨率、非线性度以及零点残余误差等进行了测量与分析。